GB/T 4937.3-2012 半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分：外部目检
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- 标准类型：国家标准
- 标准语言：简体中文
- 授权形式：免费标准
- 文件类型：PDF格式
- 安全检测：瑞星、江民、卡巴、可牛：安全
- 更新时间：2015-10-10
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- 标签：半导体器件
资料介绍
标准编号：GB/T 4937.3-2012
简体名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分：外部目检
繁体名称：半導體器件 機械和氣候試驗方法 第3部分：外部目檢
英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic tests methods - Part 3: External visual examination
标准简介：
GT 4937的本部分的目的是验证半导体器件的材料、设计、结构、标志和工艺质量是否符合适用的采购文件的要求。外部目检是非破坏性试验，适用于所有的封装类型。本试验用于鉴定检验、过程监控、批接收。